舒適且便于使用

讓傳統技術易于操作：簡單的照明器

奧林巴斯BX53M金相顯微鏡 工業顯微鏡 測量顯微鏡照明器的設計較大程度減少了顯微鏡操作過程中所必須的復雜操作。
照明器前端的旋鈕使用戶能夠輕松地改變觀察方法。操作者可以在反射光顯微鏡檢查時快速切換較常用的觀察方法，比如從

明

場觀察到暗場觀察，到偏光觀察，以隨時改變不同類型的分析。此外，可以旋轉檢偏鏡來實現簡單偏光觀察的調節。

操作者能夠在經常使用的觀察方法之間快速切換（AlSi的拋光態樣品）

直觀的顯微鏡控制：視場光闌和孔徑光闌的簡單設置

使用正確的孔徑光闌和視場光闌設置能夠獲得良好的圖像對比度，還可以充分利用物鏡的數值孔徑。指示標志可引導用戶根據

觀察方法和所用物鏡進行正確的設置。

快速找到焦點：對焦刻度標尺

奧林巴斯BX53M金相顯微鏡 工業顯微鏡 測量顯微鏡機架上的對焦刻度標尺可以讓操作者快速鎖定焦點。操作者不用通過目鏡查

看樣品就可以大致地對準焦點，從而在檢查具有不同高度的樣品時節省了時間。

一致的照明：智能光強管理

在初始設定時，可以調節照明強度，使其與編碼照明器和/或編碼物鏡轉換器的特定硬件配置匹配。

方便而人性化的操作

奧林巴斯BX53M金相顯微鏡 工業顯微鏡 測量顯微鏡人性化設計對所有用戶都至關重要。無論是單機顯微鏡用戶，還是集成了奧林

巴斯Stream圖像分析軟件的顯微鏡系統用戶，都能得益于可以清晰顯示顯微鏡編碼型硬件位置的人性化操作設計的手動控制器。

簡單的手動開關讓用戶能夠專注于樣品和檢查工作本身。

用于旋轉電動物鏡轉換器的手動開關光按鈕手動控制器

專為圖像分析而設計的系統

可恢復顯微鏡設置：編碼硬件

BX3M采用了新的編碼功能，將顯微鏡的硬件設置與奧林巴斯Stream圖像分析軟件整合在一起。觀察方法、照明強度和物鏡位置

全都記錄在軟件和/或手動控制器里。編碼功能可實現顯微鏡設置與每幅圖像一起自動保存，從而可輕松完成此后的還原設置，

以及為報表提供文檔記錄。既節省了操作者的時間，又較大程度地減小了使用不正確設置的概率。當前的觀察設置總是清晰地

顯示在手動控制器和軟件上。

較為先進的成像

MIX組合式觀察：讓以往看不見的圖像顯示出來

BX53M的MIX組合式觀察技術組合了明場和暗場照明方法。MIX組合式照明滑塊中的LED光源，以定向暗場光線照射樣品，這種方

式類似于傳統暗場照明，但又具有更大的靈活性。這種明場與定向暗場的組合稱為MIX組合式照明，對突出顯示缺陷和區分隆起

與凹陷表面很有用處。

常規傳統的

明場將光線直接照射在樣品上，暗場則從目標的周圍側面照射樣品，突出顯示出了劃痕和缺陷。

較為先進的

MIX組合式觀察是通過一個環形LED光源來形成明場與定向暗場的組合。可以調節LED光源，選擇從哪個方向進行照明。

完全系統化

模塊化的設計能夠實現多種配置，以滿足用戶的各種要求。

用于材料學的配置

BX53M反射和反射/透射觀察

BX53M IR觀察

BX3M系列有兩種顯微鏡機架，一種僅用于反射光，一種用于反射光和透射光組合。兩種機架都可配置手動、編碼或電動部件，

并且都配備有ESD防靜電功能。

BX53M偏光觀察

BX53M偏光顯微鏡具有鮮明的偏光成像，是地質學家的理想之選。比如礦物鑒定、晶體光學特性的分析和巖石薄片的鑒定等

各種研究，

都得益于穩定的顯微鏡系統性和精密的光學系統。

用于錐光鏡檢和正像鏡檢的勃氏鏡

采用U-CPA錐光觀察附件使錐光鏡檢和正像鏡檢之間的切換簡單而快捷。可以清晰地對焦后焦平面的干涉圖樣。勃氏鏡的視

場光闌使

其能夠始終獲取

銳利而清晰的錐光圖像。

無應力光學元件

UPLFLN-P無應力物鏡得益于奧林巴斯尖端的設計和制造技術，將內部應力降到了較低。這就意味著更高的EF值，從而可以得

到較好的圖像反差。

種類豐富的補色器和波長板

提供了六種不同的補色器，用于測量巖石和礦物薄片的雙折射。測量光程差水平范圍從0到20λ。針對更方便的測量和高圖像

反差， 可以使用B e r e k 和Senarmont補色器，它們能在整個視場內改變光程差級別。